受託分析/試験サービス・ユーロフィンEAG｜ウェビナーアーカイブ配信

押さえておきたい！
TEM & SEM分析のデータ解釈ウェビナー

お客様各位

この度は弊社ウェビナーのアーカイブ配信の視聴にご関心いただき、ありがとうございます。フォーム送信後、Youtubeの視聴URLにご案内いたします。

■ ABOUT
一般的に半導体や鉄鋼・金属・先端材料などの表面や構造をナノスケールで観察するためにはSEMやTEMが用いられます。SEMは主に試料の表面をナノスケールで観察します、またTEMは試料に電子線を透過させることにより、SEMよりも高分解能での観察が可能となっています。

SEMおよびTEMは分析目的によって検出器やコントラストの使い分けが重要になってきます。ウェビナーでは分析目的ごとに、どのような検出器やコントラストが適しているかを分かりやすく説明しています。

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ユーロフィンイーエージー株式会社
セミナー運営チーム

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