受託分析/試験サービス・ユーロフィンEAG｜ウェビナーアーカイブ配信

いまさら聞けない！
SIMS分析の基礎ウェビナー

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■ ABOUT
SIMS（二次イオン質量分析法）は極低濃度のドーパントや不純物を検出する分析手法です。試料表面を一次イオンでスパッタし、スパッタによって放出された二次イオンを四重極型（Quadruple）・磁場型（Sector）等の質量分析計で分離、検出します。SIMSではHを含めた全元素をppm〜pptの感度で深さ方向分析を行うことができます。

EAG LaboratoriesはSIMS分析で業界最大の技術力を誇っています。世界最大規模のSIMS所有台数（50台以上）を誇り、7000種類以上の標準試料を所有しています。微量不純物元素に対して正確な濃度定量と高感度な検出下限値を提供しています。

ウェビナーでは「分析原理」や「標準試料」、「データ解釈方法」など基礎的な内容を中心にわかりやすく発表しています。

■ お問合せ
ユーロフィンイーエージー株式会社
セミナー運営チーム

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