受託分析/試験サービス・ユーロフィンEAG｜ウェビナーアーカイブ配信

いまさら聞けない！
TEM分析の基礎ウェビナー

お客様各位

この度は弊社ウェビナーのアーカイブ配信の視聴にご関心いただき、ありがとうございます。フォーム送信後、Youtubeの視聴URLにご案内いたします。

■ ABOUT

半導体のデバイスプロセス開発・材料開発において、高分解能透過型電子顕微鏡分析であるTEM/STEM分析は多く活用されています。
今回のセミナーではSTEM分析で取得できる"分析データの付加価値"を中心に発表しました。
また、分かりにくい、TEM・STEM・AC-STEM（CS-STEM）の違いについても分かりやすくご説明しています。

■ お問合せ
ユーロフィンイーエージー株式会社
セミナー運営チーム

Eメール： JP-Sales@eag.com
お問合せフォームはこちら

技術的なご質問・分析のご相談などお気軽にお問合せください。